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Séminaire général du Département de physique

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Analyser et mesurer à l’échelle de la nanostructure individuelle
Christian Colliex (Univ. Paris Sud)

22 octobre 2009

De nouvelles techniques de synthèse permettent d’élaborer une grande diversité de matériaux et de structures dont les briques élémentaires sont à l’échelle du nanomètre. Connaître l’architecture atomique, la composition détaillée et les propriétés électroniques et optiques de ces nouveaux objets de synthèse à l’échelle la plus fine possible est indispensable pour comprendre la relation entre leur synthèse et leurs propriétés fonctionnelles. Dans une colonne de microscope électronique, l’analyse point par point de l’échantillon avec un faisceau très fin d’électrons primaires (diamètre de l’ordre de l’Angström) et la mesure de sa réponse spectrale (spectroscopie de pertes d’énergie EELS avec une résolution de l’ordre de 0.2 eV sur une vaste gamme spectrale, de l’eV au keV) permettent l’étude de ces nouveaux matériaux à l’échelle de la nanostructure ou du défaut individuel. Ceci sera illustré par la cartographie à l’échelle atomique des différentes colonnes et de leurs liaisons de part et d’autre d’une interface métal-oxyde ou oxyde-oxyde et par la cartographie des propriétés optiques de nanoparticules métalliques individuelles ou en interactions. En associant ces techniques ultimes de caractérisation avec une approche interactive entre l’observateur et l’échantillon situé dans un porte-objet in situ spécialement conçu pour exercer des contraintes extérieures, la voie est désormais ouverte à la réalisation et à l’utilisation du nano-laboratoire fonctionnel.

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Christian Colliex Christian Colliex (Univ. Paris Sud)

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